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    短波紅外(SWIR)復消色差遠場校正物鏡

    短波紅外(SWIR)復消色差遠場校正物鏡

    • 產品型號:
    • 更新時間:2026-02-09
    • 產品介紹:短波紅外(SWIR)復消色差遠場校正物鏡
      SWIR 復消色差遠場校正物鏡經過色彩校正可在 800 – 1600nm 波段內,長距離條件下具備高分辨率。這些物鏡提供 1X 至 50X 的放大倍率,具有高數值孔徑,適用于短波紅外波長下的高分辨率成像。這些物鏡具有共同的95毫米平焦距,可以與 200mm 焦距的筒鏡和 C-mount 相機 結合使用用于簡單的系統集成。
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    短波紅外(SWIR)復消色差遠場校正物鏡

    短波紅外(SWIR)復消色差遠場校正物鏡 

    l   在短波紅外波段具有高分辨率,波長可達1600nm

    l   放大倍率從 1X 到 50X 不等

    l   適用于光電發射檢測、激光刻印和激光切割

     

    通用規格

    最大像 (mm):

    24.00

     

    產品介紹

    SWIR 復消色差遠場校正物鏡經過色彩校正可在 800 – 1600nm 波段內,長距離條件下具備高分辨率。這些物鏡提供 1X 至 50X 的放大倍率,具有高數值孔徑,適用于短波紅外波長下的高分辨率成像。這些物鏡具有共同的95毫米平焦距,可以與 200mm 焦距的筒鏡和 C-mount 相機 結合使用用于簡單的系統集成。短波紅外復消色差遠場校正物鏡適用于光電發射檢測、晶圓背面檢查、激光玻璃切割和激光掃描顯微鏡等應用。

     

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    產品編碼

    1X SWIR PE IR Plan APO Objective

    26-217

    2.5X SWIR PE IR Plan APO Objective

    26-218

    10X SWIR PE IR Plan APO Objective

    26-219

    20X SWIR PE IR Plan APO Objective

    26-220

    50X SWIR PE IR Plan APO Objective

    26-221

     


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